Forschungsbericht 2011



Extension of the Contour Integral Method for the Electrical Design of Planar Structures in Digital System

Institut: E-18
Projektleitung: Christian Schuster
Mitarbeiter/innen: Xiaomin Duan
Laufzeit: 01.09.2007 — 03.04.2012
Finanzierung:Technische Universität Hamburg-Harburg (TUHH)
Kooperationen:IBM
Internationalisierung:Vereinigte Staaten
URL: http://doku.b.tu-harburg.de/volltexte/2012/1157/

Die rasante Entwicklung der Halbleiter-Industrie stellt große Herausforderungen an die Electronic-Design-Automation-Tools.
Diese Arbeit konzentriert sich auf die effiziente und präzise Modellierung von planaren Strukturen und Leiterplatten in digitalen Systemen durch die Erweiterung eines schnellen zweidimensionalen numerischen Verfahrens – die Kontur-Integral Methode. Die Erweiterung umfasst die Ableitungen von analytischen Lösungen für eine schnelle Analyse von zylindrischen Vias sowie die Kombinationen mit anderen effiziente Methoden zur Behandlung komplexer Multilagen-Systemen. Anhand mehrerer Anwendungsbeispiele werden die Methode und ihre Erweiterung gründlich validiert und ausgewertet.