25.09.2025

BEEM als Gastgeber des 3. Treffens des SEM-Arbeitskreises der DGE

Die Betriebseinheit Elektronenmikroskopie (BEEM) war am 25.09.25 Gastgeber des 3. Treffens des SEM-Arbeitskreises der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE).

Der 2023 ins Leben gerufene SEM-Arbeitskreis bietet einen wertvollen Rahmen für den fachlichen Austausch von Elektronenmikroskopikern im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie (SEM).

Im Mittelpunkt dieses dritten Treffens standen die Themen quantitative Elementanalyse sowie Elementkontraste – fachliche Schwerpunkte, die auf großes Interesse trafen und anregende Diskussionen hervorriefen.