Z3: Elektronenmikroskopie an multiskaligen Materialsystemen

Die Herstellung von multiskaligen Materialsystemen ist ein Schwerpunkt des SFB 986. Ein weiterer Schwerpunkt beinhaltet die Analyse und Charakterisierung der neu gewonnenen Materialsysteme, u. a. mittels Raster- (SEM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Aufgabe und Ziel des Serviceprojektes Z3 ist es, den einzelnen Teilprojekten des SFB klassische Probenpräparationsmethoden sowie moderne Probenpräparation mittels Focused Ion Beam (FIB) für die Elektronenmikroskopie zentral zur Verfügung zu stellen. Mit Hilfe der vorhandenen Probenpräparationsmöglichkeiten und Mikroskope können Struktur und chemische Beschaffenheit der multiskaligen Systeme im mittleren bis hohen Vergrößerungsbereich effizient analysiert und charakterisiert werden. Insgesamt sollen die dadurch gewonnen Erkenntnisse als Grundlage dienen, um die im SFB verwendeten Materialien zu charakterisieren, um Herstellungsverfahren und -parameter zu beurteilen, und auch um weiterführende, komplexere Untersuchungen, z.B. mit höchstauflösender Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM), Streumethoden oder Mikrotomographie durchzuführen.

 

 

Leitung des Teilprojekts

Dr.-Ing. Martin Ritter

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