Herzlich willkommen auf der Homepage der Betriebseinheit Elektronenmikroskopie (BEEM) der Technischen Universität Hamburg (TUHH). Die BEEM stellt als zentrale wissenschaftliche Betriebseinheit der gesamten TUHH und anderen öffentlichen Einrichtungen Geräte, Methoden und Expertise im Bereich der Elektronenmikroskopie und Mikroanalytik zur Verfügung.
Gerne übernehmen wir auch externe Auftragsarbeiten. Unser Service erstreckt sich hierbei von der Probenpräparation bis hin zur computerunterstützten Auswertung der aufgenommenen Bild- und Analytik-Daten.
Am Donnerstag den 13.11.2025 wurde das von der DFG geförderte Großgerät „Environmental und in-situ Rasterelektronenmikroskop“ vom Leiter der Betriebseinheit Elektronenmikroskopie BEEM, Dr.-Ing. Martin Ritter, feierlich eingeweiht.
Die Betriebseinheit Elektronenmikroskopie (BEEM) war am 25.09.25 Gastgeber des 3. Treffens des SEM-Arbeitskreises der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE).
Am 22.5.2025 wurde ein neues Elektronenmikroskop, das Environmental- und in-situ-Rasterelektronenmikroskop (EiREM) „Quattro S“ des Herstellers Thermo Scientific, in den Gerätebestand der BeEM aufgenommen.
Wir begrüßen unsere neue Kollegin Carina Hedrich. Carina ist Nanowissenschaftlerin und wird für den mit der BEEM assoziierten Sonderforschungsbereich SFB 1615 „SMART Reactors for Future Process Engineering“ tätig sein.
Für seine Dissertation „3D Reconstruction of FIB Tomography Data Using Machine Learning“, die Trushal unter anderen in Zusammenarbeit mit der BEEM machte, wurde ihm der Heinz-Bethge-Preis für Materialwissenschaften verliehen.
Wir begrüßen unsere neue Kollegin Jessica Lohmann in der BEEM. Jessica wird das Project "Einfluss der Art grober Gesteinskörnung auf Struktur und Eigenschaften von ultrahochfestem Beton" bearbeiten.
