Mustererkennung Prof. Rolf-Rainer Grigat
Hauptstudium, 2 SWS Vorlesung, Sommersemester, Durchführung in englischer Sprache
FORUM
Teilnehmende Studierende können sich das Lehrmaterial von StudIP herunterladen.
Dort gibt es auch ein Forum zu dieser Veranstaltung.
ZIELE
Die Vorlesung behandelt grundlegende Methoden der Mustererkennung. Hierzu werden insbesondere die Verfahren der Klassifizierung erläutert.
Anwendungsbeispiele sind die Erkennung von Materialdefekten, der inhaltsbasierter Zugriff auf Datenbanken, die Analyse von Maschinenschrift und Handschrift oder die Analyse von Lippensprache
INHALT
- Grundlagen der Mustererkennung
- MAP Klassifikation, Bayes-Klassifikator, Maximum Likelihood
- Polynom-Klassifikation (Reduktion der Dimension, Konfidenzabbildung, rekursives
- Training)
- Mehrschichtige Perzeptrons (Training mittels Gradienten-Abstiegsverfahren)
- Radial Basis Functions, Cluster-Analyse