FEI Helios Nanolab G3 UC
Die Helios Nanolab G3 UC der Firma FEI (Thermo Fisher) kombiniert eine FIB (Focussed Ion Beam) mit einem modernen Rasterelektronenmikroskop (REM) => Dual beam Gerät.
Mit dem Elektronenstrahl können hochauflösende Abbildungen der Probenoberfläche gemacht werden und mit dem Gallium Ionenstrahl kann Probenmaterial abgetragen werden. Die Helios ist dadurch hervorragend geeignet, um dünne Proben für die weitere Untersuchung in einem Transmissionselektronenmikroskop herzustellen.
Die Kombination beider Strahlenarten (Elektronen- und Ionenstrahl) erlaubt aber auch direkt 3D-Untersuchungen des Probenmaterials in der Helios.
Wie alle EM-Mikroskope der BeEM ist auch die Helios mit einem EDX System ausgestattet. Die Kombination des schichtweisen Abtragens des Probenmaterials mit der EDX Analyse erlaubt die Erstellung von 3D Modellen einzelner Probenphasen.
Bei weiteren Fragen zur Helios kontaktieren Sie bitte den Geräteverantwortlichen:
- FEI Helios NanoLab G3 (DualBeam)
(Gebäude H, Raum -1.23B, Tel.: -4853, verantwortlich: Dr. Martin Ritter, Tel.: -3543, Vertretung: Dr. Gunnar Schaan, Tel.: -4876)
Die BeEM ist Teil des Sonderforschungsbereiches SFB 986 „Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme“. Der Sonderforschungsbereich wurde 2012 von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) eingerichtet. Der SFB 986 betreibt Grundlagenforschung für eine neue Gattung von Werkstoffen, die bislang nicht korrespondierende Materialeigenschaften vereinen. Zur Webseite des SFB 986.